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DRAM系统测试与失效分析工程师-DRAM System Test and Failure Analysis Engineer(J16895)

ChangXin Memory (CXMT) · 安徽省·合肥市

External listingFull-timeabout 2 months ago

About The Role

  1. 高速信号与协议时序分析：主导DRAM高速信号和协议时序的测量与分析，输出系统性测试报告；
  2. 系统失效分析与定位：负责DRAM新产品及相关新平台各阶段发生的系统失效量测分析，定位根因并给出结论；
  3. UIP测试执行：系统相关新平台的UIP测试执行与熟练掌握，确保测试覆盖度与准确性；
  4. 新测量设备导入与使用：主导新测量设备的导入与学习使用，提升测试能力边界；
  5. 测量方法研究与改进：研究和改进设备测量方法，丰富测量手段，提高测量准确度与效率。
  6. 教育背景与专业知识：本科及以上学历，电子、计算机、通信等相关专业，具备扎实的电路基础知识；
  7. 专业技能与资格：能熟练使用示波器与逻辑分析仪等测试测量设备，基本了解信号完整性理论及计算机硬件架构与工作原理，熟练使用电烙铁和热风枪，具备一定的焊接能力；
  8. 行业与专业经验：具有3年以上高速接口信号测量相关经验，具备一定DRAM知识，能熟读DRAM datasheet，有DRAM相关行业测试工作经历者优先。

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