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量测研发专家-TD Metrology Expert(J18593)

ChangXin Memory (CXMT) · 北京市, 安徽省·合肥市

External listingFull-timeabout 2 months ago

About The Role

  1. 负责关键尺寸（CD）、薄膜厚度、材料特性（如应力、组成）、套刻精度（Overlay）、缺陷检测等量测模块的新技术、新方法开发与评估；
  2. 优化现有量测量测方案（如CD-SEM， OCD， AFM， X-ray， Film Thickness等），提升量测的精度、稳定性和吞吐量；
  3. 研究并引入业界领先的量测技术和设备，推动量测能力的前沿发展；
  4. 对量测数据进行深度分析，建立量测数据与工艺参数、电性性能及最终良率之间的关联模型；
  5. 开发自动化的数据分析脚本和工具，实现数据的高效处理和可视化；
  6. 为新工艺模块和集成方案定义量测需求，并开发相应的量测监控方案；
  7. 快速响应研发过程中的量测异常，定位问题根源，推动解决方案；
  8. 撰写清晰的技术报告，在项目会议中进行有效汇报。
  9. 硕士及以上学历，微电子/物理/材料科学/光学工程/精密仪器/化学等理工科专业；
  10. 8年及以上半导体行业量测相关工作经验，有半导体制程整合或存储器研发经验者优先；
  11. 熟悉至少一种主流半导体量测设备及原理（如：CD-SEM, OCD/Scatterometry, AFM, X-ray (XRD/XRF/XPS), Ellipsometry, Film Thickness Measurement, Defect Inspection等）；
  12. 了解半导体制造工艺流程及整合知识，具备扎实的数据分析能力，熟练使用至少一种数据分析工具（如JMP, MATLAB, Python, R, SQL）；
  13. 对技术有热情，具备创新思维、持续学习能力和良好的问题解决能力。

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