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ATE DI测试分析资深工程师-ATE DI Test Analysis Senior Engineer(J19011)

ChangXin Memory (CXMT) · 安徽省·合肥市·肥西县

External listingFull-timeabout 2 months ago

About The Role

  1. DI TOOLING验证与测试分析： 负责ATE、RDBI等测试解决方案相关DI TOOLING的验证，测试程序调试、测试数据分析定位问题和评估性能；包含国产化测试方案或tooling的评估导入、现有测试方案的持续优化和降本增效相关工作，以及有关的作业流程和文档管理。2. 综合问题根因调查： 负责测试ATE相关DI的综合问题根因调查，包含验证用途测试程序的开发调试、波形的分析、芯片测试数据的分析统计和有关报告的整理。3. 测试治具设计与验证： 负责新产品、新工艺、新测试方案下的测试治具的设计、验证和导入工作：DSA/DIB/SOCKET电气特征性能评价等，并完成相关供应商和导入的项目的管理和质量监控。4. 持续降本增效： 通过技术创新或自主开发，不断优化现有测试方案以达到测试设备、生产治具、COK\DSA\DIB等的持续降本增效目的。5. 团队能力建设： 负责提升并培养团队测试与失效数据分析能力、并培训带教新人，建设团队测试与数据分析定位排故能力。
  2. 教育背景与专业知识：硕士以上学历；电子/电机工程、电气自动化、应用数学、半导体物理与器件、模拟与数字电路设计、计算机、微电子等理工类专业。
  3. 专业技能与资格：具备DRAM/FLASH产品测试基本概念和知识，具备Advantest/Teradyne等测试系统软硬件实践经验和工作实绩从优；精通半导体ATE测试设备、治具、量产测试相关研发至生产导入验证工作，熟悉相关领域供应商并具备供应商管理经验。
  4. 其他要求：ATE测试平台的调试经验或DDR/FLASH相关产品经验；具备产品的独立程序调试与存储器产品测试问题定位经验。

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