About The Role

测试流程开发：根据JEDEC规范和客户功能、可靠性需求制定新产品可靠性测试流程，开发Wafer level和component level的可靠性测试程式（如AQLx、P/E endurance、LTDR、HTOL/LTOL等），验证qualification测试方法的有效性；
问题分析与方案验证：负责产品功能、性能及可靠性验证测试执行中与测试平台、测试程式相关的问题原因分析，提出测试解决方案并验证；
大数据分析与异常识别：分析可靠性测试大数据，识别DC/AC参数、读写擦延迟、RBER及speed等测试项的分布趋势与离群异常；
测试优化与效率提升：针对产品测试设计（DFT）提出需求，根据测试数据提出改进意见，优化测试方法以提升测试覆盖率、有效性及测试效率（TTR）；
跨团队协作与失效分析：与产品设计、工艺和器件可靠性、PTE、EFA/PFA等团队合作，分析和解决复杂测试失效问题。
教育背景与专业知识：硕士及以上学历，微电子、计算机工程、集成电路专业；
专业技能与资格：具备C/C++和Python编程能力，能自动化分析大量测试数据，熟悉数据分析工具并有数据统计分析经验者优先；
行业与专业经验：3年以上存储或逻辑芯片产品测试相关经验，了解flash CP/FT测试验证流程，具有存储架构和操作相关知识者优先；
项目/任务成果：主导过至少1个产品可靠性测试程式的开发与验证项目，能独立完成测试流程设计与问题分析；
其他要求：具有学习和独立解决问题能力，工作主动性强，具有团队合作精神。

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产品测试程式工程师-REL Test Program Engineer(J19296)

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