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透射电镜失效分析工程师-TEM Failure Analysis Engineer(J19219)
ChangXin Memory (CXMT) · 北京市
About The Role
- TEM案件分析与制样:主导基础及进阶TEM案件分析,完成高难度FIB制样,输出分析报告,解决分析过程中的技术难题;
- 机台运维与产能保障:挖掘并解决工艺制程潜在问题,维持量产及产能扩展,设计实验改善分析流程,快速解决机台故障导致的产出下降,协调人力分配并对案件分析结果提出专业意见;
- 异常根因分析:解读失效分析需求,对比工艺查找缺陷异常的根本原因,分析产品关键尺寸异常,快速定位问题来源,通过分析手法锁定缺陷层别,协同设备或defect team讨论处置措施并确认根本原因;
- 新分析方法开发:改良现有制样流程,建立新分析程序或手法,开发更高效率、高良率和高稳定性的分析方法,推动技术升级。
- 教育背景与专业知识:本科及以上学历,理工科、半导体或材料相关专业;
- 专业技能与资格:具备PFA实务经验及半导体制程分析理论与实务经验,有FMEA、MSA、DOE、5Why等质量分析工具应用能力;
- 行业与专业经验:具有3年以上直接经验(硕士学历可放宽),有TEM操作经验者优先;
- 项目/任务成果:主导过至少2个TEM失效分析或FIB制样改进项目,并能输出标准分析流程;
- 其他要求:具有较强的沟通和团队协作能力,能主动分析问题并推动跨部门协作闭环。
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