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失效分析工程师 (电路时序测试分析方向)-Failure Analysis Engineer (Circuit Timing Test and Analysis Direction)(J20133)

ChangXin Memory (CXMT) · 安徽省·合肥市, 上海市

External listingFull-time23 days ago

About The Role

  1. 时序测试方法开发：主导DRAM核心电路时序测试方法开发与失效分析工作，形成标准化方法论并持续迭代；
  2. Silicon时序验证：主导DRAM研发产品silicon核心电路时序验证工作，输出验证报告并推动问题闭环；
  3. 新制程时序优化：协同设计人员开发与优化新工艺制程产品的时序相关电路，提升性能与可靠性；
  4. 时序问题解决与改善反馈：主导DRAM时序电路相关问题的解决，分析根因并提出改善方向，反馈至Design或Process部门。
  5. 教育背景与专业知识：硕士及以上学历，电子类、材料类、器件类等相关专业；
  6. 专业技能与资格：能使用C语言完成编程任务，具备英语阅读能力，能解读英文技术文档；
  7. 行业与专业经验：具备device、process或design背景相关经验，有DRAM测试经验或能使用Advantest T5xxx平台者优先；
  8. 其他要求：具有深入探究与分析问题的能力，能主动推动问题解决并形成闭环。

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